发明名称 |
具有改良式压柱的测试座及其测试系统 |
摘要 |
本发明公开了一种具有改良式压柱的测试座及其测试系统,测试座包括:一吸测盘、一套衬座、及一基座。吸测盘具有多个压柱,每一压柱穿设有一通道及具有一图样的截面部;套衬座上具有可容纳多个待测传感器的多个容纳室,多个容纳室对应多个压柱而设置;基座上具有多个穿孔以容纳多个探针。其中,吸测盘的每一压柱分别置入套设于套衬座的每一容纳室。由此,可避免在吸取移动及压测待测传感器时,造成待测传感器的感应元件,产生测试失效等问题。 |
申请公布号 |
CN103809097A |
申请公布日期 |
2014.05.21 |
申请号 |
CN201210453802.9 |
申请日期 |
2012.11.13 |
申请人 |
京元电子股份有限公司 |
发明人 |
丁伟修 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I;G01D18/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种具有改良式压柱的测试座,包括:一吸测盘,具有多个压柱,每一压柱穿设有一通道及具有一图样的截面部;一套衬座,具有可容纳多个待测传感器的多个容纳室,其对应该多个压柱设置,该吸测盘的每一压柱分别置入套设于该套衬座的每一容纳室;以及一基座,该基座上具有多个穿孔以容纳多个探针。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |