| 发明名称 | 存储设备测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种存储设备测试系统，该系统包括被构造成接纳供测试的至少两个存储设备的测试槽，所述至少两个存储设备处于相同平面中。 | ||
| 申请公布号 | CN103814299A | 申请公布日期 | 2014.05.21 |
| 申请号 | CN201280046294.0 | 申请日期 | 2012.09.20 |
| 申请人 | 泰拉丁公司 | 发明人 | 布莱恩·S·梅洛;约翰·P·托斯卡诺;汤姆·杜特姆贝尔;埃里克·L·特吕本巴赫 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 戚传江;穆德骏 |
| 主权项 | 一种存储设备测试系统，包括：被构造成接纳供测试的至少两个存储设备的测试槽，所述至少两个存储设备处于相同平面中。 | ||
| 地址 | 美国马萨诸塞州 | ||