一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置

摘要

本发明提供了一种测试DDR3数据有效窗口的方法，先计算出DDR3的数据有效窗口大小，再根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位。本发明提供的测试DDR3数据有效窗口的方法，可在对DDR3内存的硬件设计之后，通过所述测试DDR3数据有效窗口的方法和装置测试出数据有效窗口大小，然后在对DDR3控制器设计中直接根据测试得到的窗口大小设置读时钟采样点位置，提高了硬件设计的效率，降低了PCB的布局布线难度。

主权项

一种测试DDR3数据有效窗口的方法，其特征在于，所述方法包括：计算DDR3的数据有效窗口大小，根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位，记录P_min和P_max；其中，所述P_min为数据匹配采样时钟最小相位；所述P_max为数据匹配采样时钟最大相位；所述方法包括如下步骤：1.向DDR3内存段存储区域预写数据；2.设置读采样时钟初始值；3.回读比较数据，判断所述回读比较数据是否与写入的数据格式一致，根据判断的结果分别记录P_min和P_max；所述DDR3内存读写操作以burst为单位，所述步骤1中预写的数据块的数目至少为一个burst；所述步骤2中调整相位初始值的方式为自动调整或手动调整；所述DDR3数据的窗口大小按照如下公式进行计算：（P_max‑P_min）×5ns，其中，采样时钟频率为200MHz。