| 摘要 |
Устройство для исследования материалов в деформированных состояниях методом атомно-силового микроскопа представляет собой механизм, двигающий зажимы с закрепленным образцом в противоположные стороны, на который сверху подводят зонд атомно-силового микроскопа, и содержит общее металлическое основание, закрепленное на каретке держателя образца атомно-силового микроскопа, на котором с двух сторон закреплены две параллельные направляющие, по которым при вращении ручки винта с разделенной относительно поперечной оси левой и правой резьбами, обеспечивающими одновременное расхождения и приближение, двигаются подвижные зажимы, отличающееся тем, что устройство с растяжным механизмом делается в виде встроенного в атомно-силовой микроскоп механизма и тем самым подвод и отвод сканирующего зонда (кантилевера) происходит автоматически с помощью позиционера самого микроскопа. |
