发明名称 Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung desselben
摘要 Halbleiterbauelement aufweisend:–einen Halbleiterkörper mit einer ersten Elektrode und einer zweiten Elektrode, die auf einander gegenüberliegenden Oberflächen des Halbleiterkörpers angeordnet sind;–eine Steuerelektrode auf einer Isolationsschicht, die Kanalbereiche von Bodyzonen im Halbleiterkörper für einen Stromfluss zwischen den beiden Elektroden steuert;–eine Driftstrecke die sich an die Kanalbereiche anschließt und Driftzonen sowie Ladungskompensationszonen aufweist, wobei ein Teil der Ladungskompensationszonen leitend angeschlossene Ladungskompensationszonen sind, die mit der ersten Elektrode elektrisch in Verbindung stehen und ein anderer Teil nahezu floatende Ladungskompensationszonen aufweist, so dass eine vergrößerte Steuerelektrodenfläche eine monolithisch integrierte Zusatzkapazität CZGD innerhalb eines Zellenbereichs des Halbleiterbauelements aufweist.
申请公布号 DE102008056574(B4) 申请公布日期 2014.05.15
申请号 DE20081056574 申请日期 2008.11.10
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 WILLMEROTH, ARMIN, DIPL.-PHYS.;KAINDL, WINFRIED, DR. RER. NAT.;TOLKSDORF, CAROLIN, DR.-ING.;RÜB, MICHAEL, DR. RER. NAT.
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L21/78;H01L29/06;H01L29/739 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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