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Elektronische Leiterplatte (CB) für das automatische Prüfen einer zu prüfenden elektronischen Vorrichtung (DUT) mit einer automatischen Prüfeinrichtung (ATE), die einen ersten Signalgenerator (SG1) umfasst, wobei die Leiterplatte (CB) umfasst: einen Anschluss für automatische Prüfeinrichtungen (T1) zur Kopplung der automatischen Prüfeinrichtung (ATE) mit der Leiterplatte (CB), einen Anschluss für zu prüfende Vorrichtungen (T2) zur Kopplung einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) mit der Leiterplatte (CB), einen den Anschluss für automatische Prüfeinrichtungen (T1) mit dem Anschluss für zu prüfende Vorrichtungen (T2) verbindenden Leiterzug (W1), und eine PIN-Diode (D1), die mit einer Kathode (CA) oder einer Anode (AN) mit dem Leiterzug (W1) verbunden ist, wobei die Leiterplatte (CB) einen Signalanschluss (T3) umfasst, der mit einer Anode (AN) oder einer Kathode (CA) der PIN-Diode (D1) verbunden und so eingerichtet ist, dass er mit einem zweiten Signalgenerator (SG2) gekoppelt werden kann, und die entsprechende andere Seite der PIN-Diode (D1) direkt auf dem Leiterzug (W1) angeordnet ist, sodass die Länge einer Verbindung zwischen dem Leiterzug (W1) und der Kathode (CA) bzw. der Anode (AN), die die PIN-Diode (D1) mit dem Leiterzug (W1) verbinden, in Bezug auf eine Signalfrequenz von gleich oder mehr als 5 GHz eines Prüfsignals der automatischen Prüfeinrichtung (ATE) zum Prüfen der zu prüfenden Vorrichtung (DUT) über den Leiterzug (W1) wesentlich kürzer ist als die Wellenlänge der Signalfrequenz des Prüfsignals, sodass die Impedanz des Leiterzuges (W1) nicht beeinflusst wird. |
