| 发明名称 | 多介质结构测量方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种多介质结构测量方法及装置，包括：获取发射端发送的N组电磁波的N组发射场强H<sub>0</sub>，并获取接收端接收的N组电磁波的N组接收场强H<sub>N/2</sub>，其中，N≧4，根据设定的介质结构数学模型，以及N组发射场强H<sub>0</sub>和N组接收场强H<sub>N/2</sub>，确定N/2组衰减系数β<sub>k</sub>以及走时路径r<sub>k</sub>，其中，k=1,2……N/2。从而提高了电磁波走时层析成像技术在重建图像反演过程中的可靠性。 | ||
| 申请公布号 | CN103792585A | 申请公布日期 | 2014.05.14 |
| 申请号 | CN201410042002.7 | 申请日期 | 2014.01.28 |
| 申请人 | 淮南矿业（集团）有限责任公司;安徽理工大学 | 发明人 | 赵俊峰;童碧;孟庆彪;汪国胜;郑晓亮;胡业林;周伟东 |
| 分类号 | G01V3/12(2006.01)I | 主分类号 | G01V3/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人 | 刘芳 |
| 主权项 | 一种多介质结构测量方法，其特征在于，包括：获取发射端发送的N组电磁波的N组发射场强H<sub>0</sub>，并获取接收端接收的所述N组电磁波的N组接收场强H<sub>N/2</sub>，其中，N≧4；根据设定的介质结构数学模型，以及所述N组发射场强H<sub>0</sub>和所述N组接收场强H<sub>N/2</sub>，确定N/2组衰减系数β<sub>k</sub>以及走时路径r<sub>k</sub>，其中，k=1,2……N/2。 | ||
| 地址 | 232001 安徽省淮南市田家庵区洞山中路1号 | ||