检测基板缺陷的检测方法及检测装置

摘要

本发明提供一种测基板缺陷的检测方法，该检测方法包括：S1、获取待检测基板的图像；其中，所述检测方法还包括精检步骤，该精检步骤包括：S2、判断所述待检测基板的图像中上是否存在第一缺陷区；当所述待检测基板的图像中存在所述第一缺陷区时，所述精检步骤包括：S3、将所述第一缺陷区内的像素的颜色转换为第一纯色，将所述图像中的正常区内的像素的颜色转换为第二纯色。本发明还提供一种检测装置。在本发明所提供的检测方法中，提高了所述第一缺陷区与所述正常区的对比度，便于检验员区分第一缺陷区和正常区，减少漏检情况的出现。

主权项

一种检测基板缺陷的检测方法，该检测方法包括：S1、获取待检测基板的图像；其特征在于，所述检测方法还包括精检步骤，该精检步骤包括：S2、判断所述待检测基板的图像中上是否存在第一缺陷区；当所述待检测基板的图像中存在所述第一缺陷区时，所述精检步骤包括：S3、将所述第一缺陷区内的像素的颜色转换为第一纯色，将所述图像中的正常区内的像素的颜色转换为第二纯色。