发明名称 薄膜掩模修正装置
摘要 本发明提供薄膜掩模修正装置,能够在曝光装置外容易且正确地修正、校正薄膜掩模与基板的局部偏差。该薄膜掩模修正装置具有基板台(1)、薄膜掩模基座(2)、摄像装置(3)、加压装置(4)以及薄膜掩模保持架(70)。薄膜掩模基座(2)具有透明的玻璃板(20)和升降装置(21),将玻璃板(20)重叠在基板(90)上,通过上升而将薄膜掩模(95)转移到薄膜掩模保持架(70)。摄像装置(3)重叠地拍摄基板(90)与薄膜掩模(95)以及基板产品图案(92)与掩模产品图案(97),观测基板(90)与薄膜掩模(95)的画面的差分。通过摩擦块(40)进行薄膜掩模(95)的修正,薄膜掩模保持架(70)接收修正后的薄膜掩模(95)并转移到下一个工序。
申请公布号 CN103792801A 申请公布日期 2014.05.14
申请号 CN201310435048.0 申请日期 2013.09.23
申请人 株式会社阿迪泰克工程 发明人 阿部和芳;杉田健一
分类号 G03F9/00(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G03F9/00(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 李辉;黄纶伟
主权项 一种薄膜掩模修正装置,其特征在于,包括:基板台,其载置具有对位用的基板标记的基板;由透明体构成的薄膜掩模基座,其在所述基板台的上方载置具有对位用的掩模标记的薄膜掩模;摄像装置,其能够重叠地拍摄所述基板和所述薄膜掩模;对位装置,其通过所述摄像装置对所述基板标记和掩模标记进行拍摄,根据该拍摄到的基板标记和掩模标记进行基板与薄膜掩模的对位;加压装置,其根据由所述摄像装置拍摄到的基板和薄膜掩模,使薄膜掩模的期望位置发生变形;薄膜掩模固定装置,其以保持由该加压装置实现的薄膜掩模的变形的方式,将薄膜掩模固定到所述薄膜掩模基座;以及转移装置,其以保持所述薄膜掩模的变形的状态,将该薄膜掩模转移到薄膜掩模保持架上,该薄膜掩模保持架用于保持所述薄膜掩模并安装到曝光装置。
地址 日本东京都