发明名称 | 测试系统 | ||
摘要 | 本发明实施例公开了一种测试系统,包括,一测试机台、一测试制具以及一待测芯片。测试机台具有一第一主通道、一第二主通道以及多个第三主通道。测试制具具有多个第一次通道、一第二次通道以及多个第三次通道。第一次通道电连接第一主通道。第二次通道电连接第二主通道。第三次通道电连接第三主通道。待测芯片包括多个电源垫、一测试电源垫以及多个信号垫。电源垫及测试电源垫通过多个走线彼此电连接。当测试制具接触待测芯片时,电源垫电连接第一次通道,测试电源垫电连接第二次通道,信号垫电连接第三次通道。 | ||
申请公布号 | CN103792429A | 申请公布日期 | 2014.05.14 |
申请号 | CN201210436101.4 | 申请日期 | 2012.11.05 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 杨正光 |
分类号 | G01R27/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/04(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 任默闻 |
主权项 | 一种测试系统,其特征在于,包括:一测试机台,具有一第一主通道、一第二主通道以及多个第三主通道;一测试制具,具有多个第一次通道、一第二次通道以及多个第三次通道,其中所述多个第一次通道电连接所述第一主通道,所述第二次通道电连接所述第二主通道,所述多个第三次通道电连接所述多个第三主通道;以及一待测芯片,包括:多个电源垫,每一电源垫通过多个走线电连接其它电源垫;一测试电源垫,通过所述多个走线电连接所述多个电源垫的至少一者;以及多个信号垫;其中当所述测试制具接触所述待测芯片时,所述多个电源垫电连接所述多个第一次通道,所述测试电源垫电连接所述第二次通道,所述多个信号垫电连接所述多个第三次通道。 | ||
地址 | 中国台湾台中市 |