一种测试FPGA的装置与方法

摘要

本发明提供了一种测试FPGA的装置与方法。该测试FPGA的装置位于FPGA芯片内，包括：自测试控制器，用于按照预设时序生成地址生成信号和回读使能信号；地址生成器，用于在地址生成信号的驱动下，生成遍历被测试的FPGA配置阵列的地址，并使该地址对应的FPGA配置阵列处于相应的读写状态；数据生成器，用于在回读使能信号的作用下，对于由地址生成器提供的每一个地址，依据该地址，首先从FPGA配置阵列读取配置数据，对该配置数据进行变换形成一组新的测试配置数据，然后将新产生的测试配置数据重新写回至FPGA配置阵列的该地址。本发明减少了从芯片外部串行加载测试配置的次数，提升了测试效率，降低了测试成本。

主权项

一种测试FPGA的装置，其特征在于，位于FPGA芯片内，包括：一数据生成器、一地址生成器、一自测试控制器；其中，自测试控制器，用于按照预设时序生成地址生成信号和回读使能信号；地址生成器，与被测试FPGA配置阵列相连接，用于在所述地址生成信号的驱动下，生成遍历被测试的FPGA配置阵列的地址，并使该地址对应的FPGA配置阵列处于相应的读写状态；数据生成器，与被测试FPGA配置阵列相连接，用于在回读使能信号的作用下，对于由地址生成器提供的每一个地址，依据该地址，从FPGA配置阵列读取配置数据，对该配置数据进行变换形成一组新的测试配置数据，然后将新产生的测试配置数据重新写回至FPGA配置阵列的该地址。