发明名称 基于天线阵的多目标微位移测量方法
摘要 本发明公开了一种大型建筑物多目标微位移测量方法,属于建筑物变形监测技术领域。本方法在被测物体上安装P个无源角反射器,在远离被测物体处安装阵列雷达。天线阵辐射信号照射所有角反射器并接收混合回波信号,并行形成P个最优波束分离出每个角反射器的回波信号,每个波束在需要分离的角反射器回波信号方向上增益最大,接收信号功率最强;在其它P-1个角反射器回波方向上形成零陷,将干扰降至最小。检测发射信号与恢复的各角反射器回波信号相位差,将相位差变化量转换为各角反射器的微位移量。本方法解决了多个角反射器回波信号很难分离的问题,实现了多目标微位移测量,抗干扰能力强,能够很好地应用于建筑物的微位移测量中。
申请公布号 CN103792531A 申请公布日期 2014.05.14
申请号 CN201410060204.4 申请日期 2014.02.21
申请人 重庆大学 发明人 王韬;郑海升;王坤;张洪;李康男;高叶霞;杨力生;张潘;谢芝茂;谢晓姣
分类号 G01S13/08(2006.01)I 主分类号 G01S13/08(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于天线阵的多目标微位移测量方法,使用角反射器和阵列雷达构成微位移测量系统,角反射器安装在建筑物上,阵列雷达远离被测物;阵列雷达辐射信号照射角反射器,并接收角反射器回波信号,通过最优波束形成技术,恢复出各个角反射器的回波信号,通过检测收发信号之间的相位差变化量计算各角反射器的微位移量,实现多目标微位移测量。
地址 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号重庆大学A区通信与测控中心