发明名称 | 测试分选机用插件 | ||
摘要 | 本发明涉及一种测试分选机用插件。本发明公开一种通过在形成于插件的支撑部件上的开放孔或者形成于防脱突起上的引导槽上形成具有与半导体元件的端子大小相等的半径的引导部而精确设定半导体元件的位置来提高产品可靠性的技术。 | ||
申请公布号 | CN103785619A | 申请公布日期 | 2014.05.14 |
申请号 | CN201310426373.0 | 申请日期 | 2013.09.18 |
申请人 | 泰克元有限公司 | 发明人 | 罗闰成;刘晛准;黄正佑 |
分类号 | B07C5/00(2006.01)I | 主分类号 | B07C5/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 金光军;刘奕晴 |
主权项 | 一种测试分选机用插件,其特征在于,包括:主体,形成有用于插入半导体元件的插孔;支撑部件,从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔中的半导体元件;固定部件,将所述支撑部件固定于所述主体;闩锁装置,用于将半导体元件保持在所述插孔内,其中,所述支撑部件上形成有用于朝测试机方向开放半导体元件端子的开放孔,以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧,且所述开放孔中的至少一个特定开放孔包括:扩增部,具有比半导体元件的端子半径更大的曲率半径;引导部,具有不同于所述扩增部的半径大小的曲率半径,从而对半导体元件的端子进行引导。 | ||
地址 | 韩国京畿道华城市 |