发明名称 |
PROCEDE DE REALISATION D'UN TRANSISTOR A EFFET DE CHAMP A CANAL SIGE PAR IMPLANTATION IONIQUE |
摘要 |
Le substrat de type semi-conducteur sur isolant comporte un support (1), un film électriquement isolant (2), un film cristallin en matériau semi-conducteur (3), une couche de protection (4). Des ions de germanium sont implantés dans le film en matériau semi-conducteur (3) à travers la couche de protection (4) de manière à former une zone amorphisée en contact avec la couche de protection (4) et une zone cristalline en contact avec le film électriquement isolant (2). Le film en matériau semi-conducteur (3) est recuit de manière à recristalliser la zone amorphisée à partir de la zone cristalline. |
申请公布号 |
FR2997789(A1) |
申请公布日期 |
2014.05.09 |
申请号 |
FR20120002981 |
申请日期 |
2012.11.07 |
申请人 |
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES |
发明人 |
GRENOUILLET LAURENT;VINET MAUD;LE TIEC YANNICK;WACQUEZ ROMAIN;FAYNOT OLIVIER |
分类号 |
H01L21/335;H01L21/22 |
主分类号 |
H01L21/335 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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