Zerstörungsfreies Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke einer metallischen Schutzschicht auf einem metallischen Grundmaterial

摘要

Zerstörungsfreies Verfahren zum Bestimmen der Schichtdicke einer metallischen Schutzschicht (2) auf einem metallischen Grundmaterial (1), wobei die Dicke der metallischen Schutzschicht (2) durch Detektierung einer sich zwischen der metallischen Schutzschicht (2) und dem metallischen Grundmaterial (1) befindenden, andersartigen Schicht (3) bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die andersartige Schicht (3) vor dem Auftragen der metallischen Schutzschicht (2) durch Verarmung des metallischen Grundmaterials (1) von Al und Ti innerhalb der obersten 10μm bis 50μm des Grundmaterials (1) hergestellt wird.