| 发明名称 | 保偏光纤光轴熔接角度误差的评价方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种保偏光纤光轴熔接角度误差的评价方法及装置。基于单色偏振光在保偏光纤中传输时偏振态的变化与两段保偏光纤光轴0°或45°熔接角度误差具有直接的依赖关系，通过检测熔接后保偏光纤输出光的偏振度，实现对保偏光纤光轴0°或45°熔接角度误差的测量。本发明能精确评价保偏光纤的熔接性能，为光纤传感器的研制及性能的提供有效的评价方法装置。 | ||
| 申请公布号 | CN103776393A | 申请公布日期 | 2014.05.07 |
| 申请号 | CN201410009630.5 | 申请日期 | 2014.01.08 |
| 申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 张登伟;赵宇翔;舒晓武;刘承 |
| 分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人 | 林松海 |
| 主权项 | 一种保偏光纤光轴熔接角度误差的评价方法，其特征在于，基于单色偏振光在保偏光纤中传输时偏振态的变化与两段保偏光纤光轴0°或45°熔接角度误差具有直接的依赖关系，通过检测熔接后保偏光纤输出光的偏振度，实现对保偏光纤光轴0°或45°熔接角度误差的测量。 | ||
| 地址 | 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 | ||