发明名称 成膜材料、使用该成膜材料的密封膜、及其用途
摘要 本发明涉及使用具有至少一个与硅原子直接键合的仲烃基,且具有氧原子相对于硅原子1为0.5以下的原子比这样的特定结构的有机硅化合物作为原料,以由通过CVD形成的含碳氧化硅形成的膜作为密封膜,用于气体阻隔部件、FPD器件、半导体器件等。
申请公布号 CN103781937A 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201280043228.8 申请日期 2012.08.24
申请人 东曹株式会社 发明人 原大治;清水真乡
分类号 C23C16/42(2006.01)I;H01L21/312(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I;C07F7/08(2006.01)I 主分类号 C23C16/42(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 沈雪
主权项 一种化学气相沉积法用的成膜材料,其含有下述有机硅化合物,所述有机硅化合物具有至少一个与硅原子直接键合的仲烃基,且具有氧原子相对于硅原子1为0.5以下的原子比。
地址 日本山口县