发明名称 | 成膜材料、使用该成膜材料的密封膜、及其用途 | ||
摘要 | 本发明涉及使用具有至少一个与硅原子直接键合的仲烃基,且具有氧原子相对于硅原子1为0.5以下的原子比这样的特定结构的有机硅化合物作为原料,以由通过CVD形成的含碳氧化硅形成的膜作为密封膜,用于气体阻隔部件、FPD器件、半导体器件等。 | ||
申请公布号 | CN103781937A | 申请公布日期 | 2014.05.07 |
申请号 | CN201280043228.8 | 申请日期 | 2012.08.24 |
申请人 | 东曹株式会社 | 发明人 | 原大治;清水真乡 |
分类号 | C23C16/42(2006.01)I;H01L21/312(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I;C07F7/08(2006.01)I | 主分类号 | C23C16/42(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 沈雪 |
主权项 | 一种化学气相沉积法用的成膜材料,其含有下述有机硅化合物,所述有机硅化合物具有至少一个与硅原子直接键合的仲烃基,且具有氧原子相对于硅原子1为0.5以下的原子比。 | ||
地址 | 日本山口县 |