| 摘要 |
<p>테스트 소켓 및 그 제조 방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓은 반도체 기기와 같은 테스트용 기기와 전기적으로 콘택하는 신호 접속부와, 테스트 장치 또는 테스트 보드와 콘택하는 신호 단자부와, 상기 신호 접속부와 상기 신호 단자부 사이를 전기적으로 연결하는 신호 전달부를 포함하는 필름부; 및 상기 필름부 일면에 위치하며, 상기 테스트용 기기가 상기 신호 접속부 방향으로 가압되어 접촉될 때, 상기 신호 접속부를 지지하고, 가압 해제 시 상기 테스트용 기기 및 상기 신호 접속부의 위치를 미리 결정된 위치 또는 방향으로 복원시키는 복원부를 포함함으로써, 미세 피치의 테스트 소켓의 제조 단가를 낮출 수 있고, 제조 수율을 높일 수 있으며, 고주파 테스트용 기기의 테스트를 신뢰성 있게 수행할 수 있다.</p> |
