发明名称 |
硅麦克风的测试装置 |
摘要 |
本发明提供一种硅麦克风的测试装置,其中,所述硅麦克风包括:声孔及第一端口,所述测试装置至少包括:上端开口的测试腔体;位于所述测试腔体底部的发声器,用于向所述声孔提供声音信号;具有第二端口的测试单元,与所述发声器具有间隔、且至少一侧设置于所述测试腔体的内壁上,用于基于所述发声器输出的声音信号来测试所述硅麦克风的工作信息;其中,所述第二端口对应连接所述第一端口;以及与所述测试腔体上端连接的反射盖,用于将所述发生器输出的声音信号予以反射。由上可见,所述测试装置利用将反射盖来封闭所述测试腔体能够防止外界噪声对声音信号的干扰,以使所述测试装置通用于任何硅麦克风。 |
申请公布号 |
CN103781010A |
申请公布日期 |
2014.05.07 |
申请号 |
CN201210413849.2 |
申请日期 |
2012.10.25 |
申请人 |
上海耐普微电子有限公司;钰太科技股份有限公司 |
发明人 |
叶菁华 |
分类号 |
H04R29/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04R29/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
高磊 |
主权项 |
一种硅麦克风的测试装置,其中,所述硅麦克风包括:声孔及第一端口,其特征在于,所述测试装置至少包括:上端开口的测试腔体;位于所述测试腔体底部的发声器,用于向所述声孔提供声音信号;具有第二端口的测试单元,与所述发声器具有间隔、且至少一侧设置于所述测试腔体的内壁上,用于基于所述发声器输出的声音信号来测试所述硅麦克风的工作信息;其中,所述第二端口对应连接所述第一端口;以及与所述测试腔体上端连接的反射盖,用于将所述发生器输出的声音信号予以反射。 |
地址 |
201204 上海市浦东新区张江高科技园区毕升路299弄11栋202A室 |