| 发明名称 | 一种亚微米级器件的检测装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种亚微米级器件的检测装置，包括底座，一端连接所述底座、另一端连接放大镜的可弯曲软管制成的支架，还包括：品检平台，以及设置于所述品检平台内部的底光源。本实用新型设计合理，结构简单，重量轻，可方便的移到任何需要品检的地方，满足了小批量高精密制造产品的外观质量检测要求，保证了产品的合格率，同时也降低了设备的费用。 | ||
| 申请公布号 | CN203587487U | 申请公布日期 | 2014.05.07 |
| 申请号 | CN201320784851.0 | 申请日期 | 2013.12.04 |
| 申请人 | 广州先艺电子科技有限公司 | 发明人 | 陈卫民 |
| 分类号 | G01N21/00(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人 | 汤东凤 |
| 主权项 | 一种亚微米级器件的检测装置，包括：底座，一端连接所述底座、另一端连接放大镜的可弯曲软管制成的支架，其特征在于，还包括：品检平台，以及设置于所述品检平台内部的底光源。 | ||
| 地址 | 511442 广东省广州市番禺区南村镇里仁洞村金山工业园自编号B幢第二层B202 | ||