具有双轴向定位机构的检测装置

摘要

本实用新型涉及一种具有双轴向定位机构的检测装置，包括探针卡、芯片承载座、升降台、水平横轴定位推杆以及水平纵轴定位推杆。其中，在芯片承载座的上表面挖设有芯片承载槽，且其组装于升降台上并位于探针卡的下方；水平横轴定位推杆和水平纵轴定位推杆分别设置于芯片承载座的一侧的水平横轴和水平纵轴上。其中，当芯片放置于芯片承载槽后，水平横轴定位推杆和水平纵轴定位推杆分别伸出推抵芯片，使其定位于该芯片承载槽内。本实用新型可通过水平横轴定位推杆和水平纵轴定位推杆将芯片定位于芯片承载槽内，以提升检测设备的优良率和准确度。

主权项

一种具有双轴向定位机构的检测装置，包括：探针卡；芯片承载座，其设置于所述探针卡的下方，所述芯片承载座的上表面挖设有芯片承载槽；升降台，其设置于所述探针卡的下方，所述芯片承载座组装于所述升降台上；水平横轴定位推杆，其设置于所述芯片承载座的一侧，并与所述芯片承载槽的中心位置的水平横轴相对应；以及水平纵轴定位推杆，其设置于所述芯片承载座的一侧，并与所述芯片承载槽的中心位置的水平纵轴相对应；其中，当芯片放置于所述芯片承载槽后，所述水平横轴定位推杆和所述水平纵轴定位推杆分别伸出推抵所述芯片，使其定位于所述芯片承载槽内。