发明名称 含Cu量分层变化的铜铟镓硒薄膜的磁控溅射制备方法
摘要 本发明公开了一种含Cu量分层变化的铜铟镓硒薄膜的磁控溅射制备方法,其做法是:将CuIn<sub>0.7</sub>Ga<sub>0.3</sub>Se<sub>2</sub>靶材,交替进行低功率密度溅射和高功率密度溅射,交替次数至少为一次;每次交替中均先进行低功率密度溅射形成一层含Cu量高的沉积层,后进行高功率密度溅射形成含Cu量低的沉积层;最后在真空中热处理形成含Cu量分层变化的CIGS光吸收层薄膜。该法可以方便的制备出所需要的Cu含量分层变化的铜铟镓硒薄膜,制备时只需一个靶材,制备方法简单,对设备要求低,工艺稳定;且制备的薄膜各层的成分均匀性好,薄膜质量高。
申请公布号 CN102412341B 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201110348538.8 申请日期 2011.11.07
申请人 西南交通大学;成都欣源光伏科技有限公司 发明人 余洲;晏传鹏;刘连;张勇;李珂;赵勇;刘斌
分类号 H01L31/18(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 成都博通专利事务所 51208 代理人 陈树明
主权项 一种含Cu量分层变化的铜铟镓硒薄膜的磁控溅射制备方法,其做法是:将CuIn<sub>0.7</sub>Ga<sub>0.3</sub>Se<sub>2</sub>靶材交替进行低功率密度溅射和高功率密度溅射,交替次数至少为一次;每次交替中均先进行低功率密度溅射形成一层含Cu量高的沉积层,后进行高功率密度溅射形成含Cu量低的沉积层;最后在真空中热处理形成含Cu量分层变化的CIGS光吸收层薄膜;所述的低功率密度溅射的工艺条件为,功率密度0.5~4.0W/cm<sup>2</sup>,靶距为4~8cm,工作气压为0.1~4.0Pa,衬底温度为室温到300℃;所述的高功率密度溅射的工艺条件为,功率密度6.0~10.0W/cm<sup>2</sup>,靶距为4~8cm,工作气压为0.1~4.0Pa,衬底温度为室温到300℃;所述的真空中热处理工艺条件为,在50~3000Pa的氩气或氮气气氛中,升温到380~550℃,保温10~60min。
地址 610031 四川省成都市二环路北一段111号
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