高频测量用的测试用探棒

摘要

本发明涉及一种高频测量用的测试用探棒，其具有用于电接触平面结构(38)的接触侧端(16)和用于连接至电缆、特别是同轴电缆的电缆侧端(12)、特别是同轴电缆侧端，在接触侧端(16)和电缆侧端(12)之间配置具有至少两个导体(18，20)、特别是三个导体的共面导体结构，在共面导体结构(18，20)上配置有支撑共面导体结构(18，20)的电介质(24)，其在单侧或两侧被配置在电缆侧端(12)和接触侧端(16)之间的预设区间内，测试用探棒被设计成：在电介质(24)和接触侧端(16)之间，共面导体结构的导体(18，20)以在空间中自由且相对于支撑电介质(24)悬置的方式配置，测试用探棒的在接触平面结构(38)时面朝平面结构的一侧(32)配置有屏蔽元件(34)，屏蔽元件被设计成使得：该屏蔽元件(34)在电介质(24)和接触侧端(16)之间延伸到以在空间中自由且相对于支撑电介质(24)悬置的方式配置的共面导体结构(18，20)的区域(26)内。

主权项

一种高频测量用的测试用探棒，该测试用探棒具有用于与平面结构（38）电接触的接触侧端（16）和用于连接至电缆的电缆侧端（12），其中，在所述接触侧端（16）和所述电缆侧端（12）之间配置有具有至少两个导体（18，20）的共面导体结构，用于支撑所述共面导体结构（18，20）的电介质（24）被配置于所述共面导体结构（18，20），该电介质（24）在单侧或两侧被配置在所述电缆侧端（12）和所述接触侧端（16）之间的预设区间内，其中所述测试用探棒被设计成：在所述电介质（24）和所述接触侧端（16）之间，所述共面导体结构的导体（18，20）以在空间中自由且相对于支撑用的所述电介质（24）悬置的方式配置，所述测试用探棒的特征在于，所述测试用探棒的在与所述平面结构（38）接触时面朝该平面结构（38）的一侧（32）配置有屏蔽元件（34），所述屏蔽元件（34）被设计成使得该屏蔽元件（34）在所述电介质（24）和所述接触侧端（16）之间延伸到以在空间中自由且相对于支撑用的所述电介质（24）悬置的方式配置的所述共面导体结构（18，20）的区域（26）内，其中，所述测试用探棒具有由导电材料构成的壳体（10），其中，所述屏蔽元件（34）与所述壳体（10）电连接。