发明名称 |
用于粒子检测仪中散点图的粒子分类方法 |
摘要 |
本发明公开一种用于粒子检测仪中散点图的粒子分类方法,其包括步骤:A、将散点图转换成地形图,输出等高线图;B、按第一层间步长从灰度值最大的像素点所在的最高层开始查找每一层等高线图;C、判断第i层等高线图中的一个闭合等高线是否可以通过预设归类规则与第i+1层等高线图中类别P的像素点之间产生联系,如是,则把第i层等高线图中的该闭合等高线投影到散点图上所包围的像素点归入类别P,否则将不能归属于任何已知类别的新顶点标记为一个新类别,其中i为自然数;D、逐层归类直到达到第1层等高线图时判断是否满足终止条件。本发明可以提高散点图中粒子分类精度。 |
申请公布号 |
CN103776751A |
申请公布日期 |
2014.05.07 |
申请号 |
CN201210407597.2 |
申请日期 |
2012.10.23 |
申请人 |
深圳市蓝韵实业有限公司 |
发明人 |
卓远;易晗平 |
分类号 |
G01N15/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/10(2006.01)I |
代理机构 |
深圳冠华专利事务所(普通合伙) 44267 |
代理人 |
诸兰芬 |
主权项 |
一种用于粒子检测仪中散点图的粒子分类方法,其特征在于,所述方法包括步骤:A、将散点图转换成地形图,并将地形图以等高线图的形式输出;B、按预设的第一层间步长,从灰度值最大的像素点所在的最高层开始查找每一层等高线图;C、将第i+1层等高线图中灰度值最大的像素点归入类别P,判断第i层等高线图中的一个闭合等高线是否可以通过预设归类规则与第i+1层等高线图中类别p的像素点之间产生联系,如是,则把第i层等高线图中的该闭合等高线投影到散点图上所包围的像素点归入类别P,否则将不能归属于任何已知类别的新顶点标记为一个新类别,其中i为自然数;D、逐层归类直到达到第1层等高线图时判断是否满足终止条件,若否,则在第1层等高线图与像素灰度值为0的第0层等高线图之间采用预设的第二层间步长进行再分层,然后转入步骤C,否则结束;其中,第二层间步长≤第一层间步长/2。 |
地址 |
518000 广东省深圳市福田区景田北路81号碧景园E栋601 |