发明名称 液体中的元素分析装置
摘要 本发明的元素分析装置具有:能装入液体(109),且至少一部分光学透明的处理槽(108);配置于处理层内,被绝缘体(103)包覆的第1电极(104);第2电极(102);产生气泡,使得第1电极(104)的位于处理槽(108)内的表面中、至少导电体露出的表面位于气泡(106)内的气泡产生部;将产生气泡(106)所需要的量的气体从处理槽的外部供给至气泡产生部的气体供给装置(105);在第1电极(104)与第2电极(102)之间施加电压的电源(101);对施加了电压时所产生的等离子的发光光谱进行测定的光检测装置(110),所述元素分析装置根据光检测装置(110)所测定的发光光谱,实施液体(109)所包含的成分的定性或定量分析。
申请公布号 CN103782158A 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201380002834.X 申请日期 2013.05.14
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 熊谷裕典;今井伸一
分类号 G01N21/67(2006.01)I 主分类号 G01N21/67(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 樊建中
主权项 一种元素分析装置,具有:第1电极,其至少一部分配置在装入液体的处理槽内;第2电极,其至少一部分配置在所述处理槽内;气泡产生部,其用于在所述处理槽内装入了所述液体时使所述液体内产生气泡,且所述气泡产生部产生所述气泡,使得所述第1电极的位于所述处理槽内的表面中、至少导电体露出的表面位于所述气泡内;气体供给装置,其从所述处理槽的外部向所述气泡产生部供给产生所述气泡所需要的量的气体;电源,其在所述第1电极与所述第2电极之间施加电压;和光检测装置,其对施加所述电压时所产生的等离子的发光光谱进行测定,所述处理槽的至少一部分光学透明,根据所述光检测装置所测定的发光光谱,实施装入所述处理槽内的液体所含有的成分的定性或定量分析。
地址 日本大阪府