发明名称 液晶基板配向检查系统
摘要 本发明涉及液晶基板配向检查系统,即HVA配向后盒内液晶检查机的整列系统,包括位于基板四角的整列机构,所述整列机构设有对基板边沿施压的水平整列装置,其特征在于,还包括用于纵向向基板施加压力的压平装置。这种液晶基板配向检查系统可以对整列过程中基板弯曲进行矫正,减少因为基板的弯曲变形造成的探针与基板接触不良,进一步减少人员误判。
申请公布号 CN103777383A 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201310753086.0 申请日期 2013.12.31
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 罗平
分类号 G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1337(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人 杨林;李友佳
主权项 一种液晶基板配向检查系统,包括位于基板(10)四角的整列机构,所述整列机构设有对基板(10)边沿施压的水平整列装置(20),其特征在于,还包括用于纵向向基板(10)施加压力的压平装置(30)。
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