发明名称 |
液晶基板配向检查系统 |
摘要 |
本发明涉及液晶基板配向检查系统,即HVA配向后盒内液晶检查机的整列系统,包括位于基板四角的整列机构,所述整列机构设有对基板边沿施压的水平整列装置,其特征在于,还包括用于纵向向基板施加压力的压平装置。这种液晶基板配向检查系统可以对整列过程中基板弯曲进行矫正,减少因为基板的弯曲变形造成的探针与基板接触不良,进一步减少人员误判。 |
申请公布号 |
CN103777383A |
申请公布日期 |
2014.05.07 |
申请号 |
CN201310753086.0 |
申请日期 |
2013.12.31 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
罗平 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1337(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 |
代理人 |
杨林;李友佳 |
主权项 |
一种液晶基板配向检查系统,包括位于基板(10)四角的整列机构,所述整列机构设有对基板(10)边沿施压的水平整列装置(20),其特征在于,还包括用于纵向向基板(10)施加压力的压平装置(30)。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |