发明名称 对铜、钨和多孔低κ电介质具有增强的相容性的半水性聚合物移除组合物
摘要 提供了有效的用于从半导体衬底移除后蚀刻处理(PET)聚合物膜和光致抗蚀剂的一种组合物。该组合物展现出优异的聚合物膜移除能力,而同时维持了对于铜和低κ电介质的相容性,并且包含水、乙二醇、二醇醚溶剂、吗啉代丙胺和腐蚀抑制剂化合物,以及任选地包含一种或多种金属离子螯合剂、一种或多种其他极性有机溶剂、一种或多种叔胺、一种或多种铝腐蚀抑制剂、以及一种或多种表面活性剂。
申请公布号 CN103782368A 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201280026969.5 申请日期 2012.05.31
申请人 安万托特性材料股份有限公司 发明人 W·R·格米尔;G·韦斯特伍德
分类号 H01L21/302(2006.01)I 主分类号 H01L21/302(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 曹立莉
主权项 一种用于从微电子设备移除后蚀刻处理(PET)聚合物膜的移除组合物,所述组合物包含:(a)约5%至约49%重量的水;(b)约2%至约20%重量的乙二醇;(c)约30%至约70%重量的一种或多种二醇醚溶剂;(d)约0.5%至约20%重量的吗啉代丙胺;(e)约0.1%至约0.5%重量的腐蚀抑制剂化合物,其选自甲基苯并三唑和甲苯基三唑;且任选地包含一种或多种以下组分:(f)一种或多种金属离子螯合剂,当存在于所述组合物中时,量为约0.01%至约1%重量;(g)一种或多种其他极性有机溶剂,当存在于所述组合物中时,量为约0.5%至约40%重量;(h)一种或多种叔胺,当存在于所述组合物中时,量为约2%至约12%重量;(i)一种或多种儿茶酚或烷基儿茶酚,当存在于所述组合物中时,量为约0.01%至10%重量;以及(j)一种多种表面活性剂,当存在于所述组合物中时,量为约0.01%至约1%重量。
地址 美国新泽西州
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