发明名称 一种双顶针的测试探针
摘要 本实用新型公开了一种双顶针的测试探针,包括探针、管体和弹簧,其特点是所述探针为两端设有顶头且中部至少设有一个凸台的细长杆件;所述管体为两端设有翻边的细长管壳;所述弹簧与两探针套装在管体内,探针一顶头与弹簧压接,另一顶头伸出管体且凸台顶压在翻边上,实现探针在管体两端的弹性伸缩;所述探针中部为一个凸台的细长阶梯杆件,其一端近顶头处或设凸环结构。本实用新型与现有技术相比具有满足轻薄、灵巧笔记本电脑和手机电路板0.5mm的测试间距,刺破点弹力大,结构简单,尤其便于测试探针密集设置在治具载板上测试更小的检测点,提高测试性能的优良率和涵盖率。
申请公布号 CN203572848U 申请公布日期 2014.04.30
申请号 CN201320761689.0 申请日期 2013.11.28
申请人 上海承盛电子科技有限公司 发明人 费保兴;黄绍伟
分类号 G01R1/073(2006.01)I 主分类号 G01R1/073(2006.01)I
代理机构 上海蓝迪专利事务所 31215 代理人 张翔
主权项 一种双顶针的测试探针,包括探针(1)、管体(2)和弹簧(3),其特征在于所述探针(1)为两端设有顶头(4)且中部至少设有一个凸台(5)的细长阶梯杆件或哑铃状杆件;所述管体(2)为两端设有翻边(6)的细长管壳;所述弹簧(3)与两探针(1)套装在管体(2)内,探针(1)一顶头(4)与弹簧(3)压接,另一顶头(4)伸出管体(2)且凸台(5)顶压翻边(6),实现两探针(1)在管体(2)两端的弹性伸缩。
地址 201602 上海市松江区佘山环山西路108号124室
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