发明名称 |
一种用于热电阻采集模块的温度补偿方法 |
摘要 |
本发明公开了一种用于热电阻采集模块的温度补偿方法,包括如下步骤:a)预先采集热电阻采集模块的测量值随环境温度变化的样本数据;b)对采集到的样本数据进行数据拟合得到热电阻采样值随温度的变化曲线作为热电阻采集模块的温度补偿曲线;c)实际测量时,热电阻采集模块获得热电阻采样值后,根据热电阻采集模块当前的环境温度,通过温度补偿曲线对热电阻采样值进行补偿。本发明提供的用于热电阻采集模块的温度补偿方法,通过预先获取采集热电阻采集模块的热电阻采样值随温度的变化曲线,并在实际测量时利用该变化曲线进行温度补偿,从而减小热电阻采集模块在环境温度变化时造成的温度测量偏差,大大提高测量精度且不增加成本。 |
申请公布号 |
CN103759851A |
申请公布日期 |
2014.04.30 |
申请号 |
CN201410054953.6 |
申请日期 |
2014.02.18 |
申请人 |
悉雅特万科思自动化(杭州)有限公司 |
发明人 |
薛志波;林维生 |
分类号 |
G01K7/16(2006.01)I |
主分类号 |
G01K7/16(2006.01)I |
代理机构 |
上海申汇专利代理有限公司 31001 |
代理人 |
金碎平 |
主权项 |
一种用于热电阻采集模块的温度补偿方法,其特征在于,包括如下步骤:a)预先采集热电阻采集模块的测量值随环境温度变化的样本数据;b)对采集到的样本数据进行数据拟合得到热电阻采样值随温度的变化曲线,并将该变化曲线作为热电阻采集模块的温度补偿曲线;c)实际测量时,热电阻采集模块获得热电阻采样值后,根据热电阻采集模块当前的环境温度,通过温度补偿曲线对热电阻采样值进行补偿。 |
地址 |
310023 浙江省杭州市天目山路3398号18号楼2楼 |