发明名称 一种薄膜晶体管的制备方法
摘要 本发明提供了一种薄膜晶体管的制备方法,包括:1)在准分子激光退火的多晶硅薄膜上沉积低温氧化层和非晶Si层;2)旋涂光刻胶;3)对光刻胶曝光,形成条状图案;4)离子注入;5)剥离光刻胶,蚀刻掉非晶Si和低温氧化层;6)刻蚀步骤5)得到的多晶硅薄膜,形成有源岛;7)用氧等离子除去光刻胶;8)去除自然氧化层,然后用LPCVD法沉积低温氧化物作为栅极绝缘层,再形成栅电极;9)对P型沟道和N型沟道TFT分别掺入硼和磷,作为源极和漏极;10)沉积低温氧化物隔离层并同时激活掺杂物,打开接触孔,形成接触导线并图案化。
申请公布号 CN103762174A 申请公布日期 2014.04.30
申请号 CN201110461865.4 申请日期 2011.12.31
申请人 广东中显科技有限公司 发明人 赵淑云;郭海成;王文
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11382 代理人 苗青盛;王凤华
主权项 一种薄膜晶体管的制备方法,包括:1)在准分子激光退火的多晶硅薄膜上沉积低温氧化层和非晶Si层;2)旋涂光刻胶;3)对光刻胶曝光,形成条状图案;4)离子注入;5)剥离光刻胶,蚀刻掉非晶Si和低温氧化层;6)刻蚀步骤5)得到的多晶硅薄膜,形成有源岛;7)用氧等离子除去光刻胶;8)去除自然氧化层,然后用LPCVD法沉积低温氧化物作为栅极绝缘层,再形成栅电极;9)对P型沟道和N型沟道TFT分别掺入硼和磷,作为源极和漏极;10)沉积低温氧化物隔离层并同时激活掺杂物,打开接触孔,形成接触导线并图案化。
地址 528225 广东省佛山市南海区狮山工业园北园中路11号
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