发明名称 VERFAHREN ZUM VERARBEITEN EINES HALBLEITERTRÄGERS, HALBLEITERCHIPANORDNUNG UND VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINES HALBLEITERBAUELEMENTS
摘要 Es ist ein Verfahren (100) zum Verarbeiten eines Halbleiterträgers vorgesehen, das Verfahren enthaltend: Bereitstellen eines Halbleiterträgers mit einem dotierten Substratbereichs und einem Bauelementbereich, der über einer ersten Seite des dotierten Substratbereichs angeordnet wird, wobei der Bauelementbereich mindestens einen Teil von einem oder mehreren Bauelementen enthält (110); und Implantieren von Ionen in den dotierten Substratbereich zum Ausbilden eines Getter-Bereichs im dotierten Substratbereichs des Halbleiterträgers (120).
申请公布号 DE102013111792(A1) 申请公布日期 2014.04.30
申请号 DE201310111792 申请日期 2013.10.25
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 LAVEN, JOHANNES;SCHULZE, HANS-JOACHIM
分类号 H01L21/265;H01L21/322;H01L29/32 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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