发明名称 包括碳基存储器元件的存储器单元及其形成方法
摘要 根据本发明的方面,提供了形成存储器单元的方法,该方法包括:在衬底上形成操纵元件;以及形成与所述操纵元件耦接的存储器元件,其中所述存储器元件包括具有不大于十个原子层的厚度的碳基材料。可以通过重复进行以下步骤形成所述存储器元件:形成碳基材料的层,该层具有大约一个单层的厚度;以及使所述碳基材料的层经历热退火。还描述了其他方面。
申请公布号 CN102067312B 申请公布日期 2014.04.30
申请号 CN200980122112.1 申请日期 2009.04.10
申请人 桑迪士克3D有限责任公司 发明人 罗伊·E·肖伊尔莱因;阿尔珀·伊尔克巴哈;阿普里尔·D·施里克
分类号 H01L27/10(2006.01)I;H01L27/102(2006.01)I;H01L51/00(2006.01)I;G11C13/02(2006.01)I 主分类号 H01L27/10(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 黄小临
主权项 一种形成存储器单元的方法,包括:在衬底上形成操纵元件;以及形成与所述操纵元件耦接的存储器元件,其中所述存储器元件包括金属‑绝缘体‑金属堆叠,所述金属‑绝缘体‑金属堆叠包括夹在两个导电层之间的碳基材料,所述碳基材料设置于所述导电层之一的上方,且所述导电层的另一个设置于所述碳基材料的上方,所述碳基材料具有不大于十个原子层的厚度。
地址 美国加利福尼亚州
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