发明名称 一种顶栅薄膜晶体管的制造方法
摘要 本发明提供一种顶栅薄膜晶体管的制造方法,包括:1)在衬底表面上形成条状的凸齿,凸齿之间具有凹槽,凸齿的横截面为矩形;2)沉积多晶硅薄膜,均匀地覆盖凸齿的顶部以及凹槽的侧壁和底部;3)对多晶硅薄膜进行离子注入,离子注入的角度使部分多晶硅薄膜被掺杂,同时使部分多晶硅薄膜未掺杂,其中掺杂的部分形成搭桥晶粒线以及源区和漏区;4)在多晶硅薄膜上沉积栅绝缘层;5)在栅绝缘层上形成栅电极,使栅电极覆盖多晶硅薄膜的凸齿及凸齿之间的凹槽。
申请公布号 CN103762313A 申请公布日期 2014.04.30
申请号 CN201110461858.4 申请日期 2011.12.31
申请人 广东中显科技有限公司 发明人 黄宇华;史亮亮;赵淑云
分类号 H01L51/40(2006.01)I;H01L51/05(2006.01)I 主分类号 H01L51/40(2006.01)I
代理机构 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11382 代理人 苗青盛;王凤华
主权项 一种顶栅薄膜晶体管的制造方法,包括:1)、在衬底表面上形成条状的凸齿,凸齿之间具有凹槽,凸齿的横截面为矩形;2)、沉积多晶硅薄膜,均匀地覆盖凸齿的顶部以及凹槽的侧壁和底部;3)、对多晶硅薄膜进行离子注入,离子注入的角度使部分多晶硅薄膜被掺杂,同时使部分多晶硅薄膜未掺杂,其中掺杂的部分形成搭桥晶粒线以及源区和漏区;4)、在多晶硅薄膜上沉积栅绝缘层;5)、在栅绝缘层上形成栅电极,使栅电极覆盖多晶硅薄膜的凸齿及凸齿之间的凹槽。
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