发明名称 一种有机器件薄膜封装方法及装置
摘要 本发明涉及有机电子学技术领域,具体涉及一种有机器件薄膜封装方法及装置。本发明采用PECVD方法,向PECVD腔室通入脉冲流量的有机硅前驱体,分别在氧气和/或氮气过量、适量以及无氧气和氮气的环境下,在有机器件的表面沉积无明显界限的无机薄膜、过渡层薄膜和有机薄膜。本发明提高了无机薄膜的质量,从而提高有机器件封装水氧阻挡性能。
申请公布号 CN103762321A 申请公布日期 2014.04.30
申请号 CN201310750783.0 申请日期 2013.12.31
申请人 刘键 发明人 刘键
分类号 H01L51/56(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I 主分类号 H01L51/56(2006.01)I
代理机构 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人 刘杰
主权项 一种有机器件薄膜封装方法,其特征在于,采用PECVD的沉积方法对有机器件进行薄膜封装,包括如下步骤:(1)向PECVD腔室中通入脉冲流量的有机硅前驱体,在氧气和/或氮气过量的环境下在所述有机器件表面沉积无机薄膜;(2)向所述PECVD腔室中通入脉冲流量的有机硅前驱体,在氧气和/或氮气适量的环境下在所述有机器件表面沉积介于无机薄膜和有机薄膜之间的过渡层薄膜;(3)向所述PECVD腔室中通入固定流量的有机硅前驱体,在无氧气和氮气的环境下在所述有机器件表面沉积有机薄膜;(4)重复所述步骤(1)~步骤(3)2~10次。
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