发明名称 Strahlungserfassungsvorrichtungen
摘要 <p>Strahlungserfassungsvorrichtung mit: einem Halbleiterkristall zum Erfassen von Strahlung, wobei der Halbleiterkristall eine obere Fläche, eine untere Fläche, und zumindest eine Seitenfläche aufweist; zumindest einer Anode, die auf zumindest einer aus der oberen Fläche, der unteren Fläche und der zumindest einen Seitenfläche angeordnet ist; und zumindest einer Kathode, die auf zumindest einer anderen aus der oberen Fläche, der unteren Fläche und der zumindest einen Seitenfläche angeordnet ist, wobei die zumindest eine Anode jeweils eine Streifenform aufweist, die zumindest eine Kathode jeweils eine plane oder gekrümmte Form aufweist, und die zumindest eine Kathode und die zumindest eine Anode sich in Bezug zueinander parallel auf eine Länge erstrecken, welche im Wesentlichen gleich jener der Anode ist.</p>
申请公布号 DE202014100311(U1) 申请公布日期 2014.04.24
申请号 DE201420100311U 申请日期 2014.01.24
申请人 TSINGHUA UNIVERSITY;NUCTECH CO. LTD. 发明人
分类号 G01T1/202 主分类号 G01T1/202
代理机构 代理人
主权项
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