发明名称 |
基于双芯片电子标签的加密校验方法 |
摘要 |
本发明提出一种基于双芯片电子标签的加密校验方法,它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片,在A芯片中的EPC区任取a位字符,在B芯片的EPC区任取8-a位字符组成8位字符的密码,并将该密码存入加密区,将A芯片的TID存入到B芯片的用户区,将B芯片的TID存入到A芯片的用户区,作为校验依据,校验时,读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较,而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较,如果有一个不相同,则校验失败,不进入输入密码的步骤,如果两个都相同,则可以输入密码。采用这种方法加密等级非常高,理论上密码是不会被破解。 |
申请公布号 |
CN103745253A |
申请公布日期 |
2014.04.23 |
申请号 |
CN201310717833.5 |
申请日期 |
2013.12.23 |
申请人 |
宁波立芯射频股份有限公司 |
发明人 |
司海涛;高博 |
分类号 |
G06K19/073(2006.01)I |
主分类号 |
G06K19/073(2006.01)I |
代理机构 |
宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 |
代理人 |
代忠炯 |
主权项 |
一种基于双芯片电子标签的加密校验方法,其特征在于:它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片,所述加密校验方法包括以下步骤: 1)、在A芯片中的EPC区任取m位字符,在B芯片的EPC区任取8‑m位字符组成8位字符的密码,并将该密码存入加密区,所述EPC为产品电子编码; 2)、将A芯片的TID存入到B芯片的用户区,将B芯片的TID存入到A芯片的用户区,作为校验依据,其中TID为芯片的芯片身份标识; 3)、输入密码之前先进行校验,校验时,读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较,而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较,如果有一个不相同,则校验失败,不进入输入密码的步骤,如果两个都相同,则进入输入密码的步骤; 其中,8≥m≥0。 |
地址 |
315000 浙江省宁波市鄞州区启明路818号20幢133号 |