发明名称 |
一种ESD保护器件及适用于电池管理芯片的ESD电路 |
摘要 |
本发明涉及ESD技术领域,公开了一种ESD保护器件及适用于电池管理芯片的ESD电路。其中,ESD保护器件包括:衬底、埋入层、高压N阱区、高压P阱区、低压P阱区及低压NMOS管;埋入层在衬底上;高压P阱区在埋入层上;低压P阱区在高压P阱区上;低压NMOS管在低压P阱区内;高压N阱区在高压P阱区的外部,并与埋入层接触;低压NMOS管的栅极与源极连接,并连接到高压P阱区上作为保护器件的正极;低压NMOS管的漏极与高压N阱区连接,作为保护器件的负极。本发明中的ESD保护器件的两端均可以接高电平,ESD电路中的ESD保护器件一一对应地与电池的两端连接,实现了对电池管理芯片的ESD保护。 |
申请公布号 |
CN103745973A |
申请公布日期 |
2014.04.23 |
申请号 |
CN201310733250.1 |
申请日期 |
2013.12.26 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
付佳;赵野;郝炳贤;姜伟;杜晓伟 |
分类号 |
H01L23/60(2006.01)I;H01M10/48(2006.01)I;H01M10/42(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/60(2006.01)I |
代理机构 |
北京华沛德权律师事务所 11302 |
代理人 |
刘杰 |
主权项 |
一种ESD保护器件,其特征在于,包括:衬底、埋入层、高压N阱区、高压P阱区、低压P阱区及低压NMOS管;所述埋入层在所述衬底上;所述高压P阱区在所述埋入层上;所述低压P阱区在所述高压P阱区上;所述低压NMOS管在所述低压P阱区内;所述高压N阱区在所述高压P阱区的外部,并与所述埋入层接触;所述低压NMOS管的栅极与源极连接,并连接到所述高压P阱区上作为保护器件的正极;所述低压NMOS管的漏极与所述高压N阱区连接,作为保护器件的负极。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所 |