发明名称 |
一种大尺寸图形化衬底芯片的制作方法 |
摘要 |
本发明提供的一种大尺寸图形化衬底芯片的制作方法,其在外延生长N型半导体层前,先采用光刻工艺将衬底表面分割成若干个方格子,而后在分割成的方格子四周用激光划出一定深度的沟道,大尺寸衬底通过这样的处理后,再进行外延层生长时,外延层被彼此相互隔开,都是在独立的方格子上生长,这样就有利于衬底应力的释放,衬底就不会再受到外延层的拉扯应力,从而避免了大尺寸衬底芯片制作过程中,外延生长时翘曲严重问题的发生,进而使外延层衬底受热均匀,芯片的光电性能大幅提高。 |
申请公布号 |
CN103746046A |
申请公布日期 |
2014.04.23 |
申请号 |
CN201310629169.9 |
申请日期 |
2013.11.29 |
申请人 |
上海蓝光科技有限公司 |
发明人 |
袁根如;郝茂盛;陶淳;邢志刚;陈耀;李振毅 |
分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
李仪萍 |
主权项 |
一种大尺寸图形化衬底芯片的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:1)提供一图形化衬底,在所述衬底上生长缓冲层;2)在所述缓冲层上生长氧化硅薄膜;3)光刻步骤2)得到的衬底,将其表面分割成若干个方格子,并暴露出缓冲层;4)在所述方格子四周的缓冲层内形成沟道;5)对所述形成的沟道进行清洗;6)去除所述方格子表面的氧化硅薄膜;7)在步骤6)得到的衬底上依次生长N型半导体层、量子阱层及P型半导体层。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区芳春路400号 |