一种基于切向偏振光的受激发射损耗显微方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于切向偏振光的受激发射损耗显微方法，包括将第一激光光束和第二激光光束分别转换为第一切向偏振光和第二切向偏振光；第一切向偏振光经相位调制后投射到荧光样品上形成激发光斑；第二切向偏振光分解为第一工作光束和第二工作光束，第一工作光束和第二工作光束分别进行相位调制形成第一STED光束和第二STED光束，且经显微物镜投射到荧光样品上通过非相干叠加形成相应的STED光斑，该STED光斑的中心点与激发光斑的中心点重合得到聚焦光斑；收集荧光样品在该聚焦光斑作用下发出的荧光，经处理后得到显微图像。本发明还公开了基于上述方法的受激发射损耗显微装置。本发明在相同工作光强下，能够实现较高的分辨率。

主权项

1.一种基于切向偏振光的受激发射损耗显微方法，包括将第一激光光束和第二激光光束分别转换为第一切向偏振光和第二切向偏振光；所述第一切向偏振光经相位调制后投射到荧光样品上形成激发光斑；其特征在于：所述第二切向偏振光分解为第一工作光束和第二工作光束，所述第一工作光束和所述第二工作光束分别进行相位调制形成第一STED光束和第二STED光束，所述第一STED光束和所述第二STED光束经显微物镜投射到荧光样品上通过非相干叠加形成相应的STED光斑，该STED光斑的中心点与所述激发光斑的中心点重合得到聚焦光斑；收集荧光样品在该聚焦光斑作用下发出的荧光，经处理后得到相应的显微图像；所述的第一工作光束进行相位调制的调制函数为：所述θ为入射光束垂直光轴剖面内各点所对应的孔径角，所述的为入射光束垂直光轴剖面内各点的极坐标位置矢量与x轴的夹角，θ₁、θ₂、θ₃、θ₄均为对应的位相板的结构参数，所述α为由显微物镜的数值孔径NA所决定的最大孔径角，n为待测荧光样品周围介质的折射率。