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发明名称 元件平行测试系统及其测试方法
摘要
申请公布号 TWI435087 申请公布日期 2014.04.21
申请号 TW098114629 申请日期 2009.05.01
申请人 智邦科技股份有限公司 新竹市科学园区研新三路1号 发明人 骆文彬;施云严;刘一如
分类号 G01R1/20;G01R31/28 主分类号 G01R1/20
代理机构 代理人
主权项
地址 新竹市科学园区研新三路1号
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