发明名称 一种LED芯片制造的方法
摘要 本发明提供一种LED芯片制造的方法,包括以下步骤:1)在衬底上形成外延层,在外延层上制作第一掩膜层,在第一掩膜层的保护下进行图形刻蚀,2)在刻蚀后清洗干净的外延结构上制作第二掩膜层,并在第二掩膜层上涂保护液;从外延层一侧划片,3)使用去光阻液等化学药液将保护液去除;使用PlasmaO<sub>2</sub>清洗机将外延结构进行清洗,进行酸溶液超声,浸泡高温硫酸与双氧水混合液;浸泡硫酸、磷酸混合液,4)去除第二掩膜层,在P层上生长透明导电层,在P层透明导电层上形成P电极,在N层上形成N电极。本发明用Plasma清洗、超声、浸泡酸混合液清洗技术,有效的解决了小尺寸管芯背划技术难点、中大功率背镀划片技术难点,提高LED芯片的制备品位和发光亮度。
申请公布号 CN103730547A 申请公布日期 2014.04.16
申请号 CN201410003103.3 申请日期 2014.01.03
申请人 合肥彩虹蓝光科技有限公司 发明人 吕振兴
分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种LED芯片制造的方法,其特征在于:包括以下步骤:1)在衬底上形成外延层,在外延层上制作第一掩膜层,在第一掩膜层的保护下进行图形刻蚀,在外延层上形成LED芯片PN结构,刻蚀完成后将第一掩膜层去除干净,刻蚀深度由外延层决定,芯片间距为10μm‑40μm;2)在刻蚀后清洗干净的外延结构上制作第二掩膜层,并在第二掩膜层上涂保护液;采用激光划片技术,从外延层一侧划片,形成“V”字形划片槽,所述划片槽在刻蚀图形内,且划片槽宽度小于两LED芯片间距;划片槽宽度为5μm‑20μm,深度为10μm‑100μm;3)使用去光阻液等化学药液将保护液去除;使用Plasma O<sub>2</sub>清洗机将外延结构进行清洗,Plasma清洗时间为5min‑30min;进行酸溶液超声,超声时间为30min‑90min;浸泡高温硫酸与双氧水混合液;浸泡时间为30min‑90min;浸泡硫酸、磷酸混合液,混合液浸泡时间为30min‑90min;4)去除第二掩膜层,在外延层沉积并制作CB‑SiO<sub>2</sub>层,蒸镀ITO并制作透明导电层,在所述的外延P层透明导电层上形成P电极,在所述外延N层上形成N电极。
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