发明名称 |
测量图像传感器的响应曲线的方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种测量图像传感器响应曲线的方法及装置。该方法包括:对标准灰阶卡进行至少一次曝光拍摄获得拍摄图像;计算每个灰阶图像块的相对曝光量,相对曝光量为曝光拍摄时使用的曝光时间与每个灰阶块的灰度的乘积;基于拍摄图像中每个灰阶图像块内像素点的像素值与相对曝光量设置参考点,对参考点进行插值计算,获得图像传感器响应曲线。在本发明中,利用参考点进行插值计算避免了方程组的求解,降低了计算量。灰阶图像块内像素值的均匀性使得像素点的选择更为容易,无需对多张不同曝光的图像进行对齐校准,避免了使用校准算法。 |
申请公布号 |
CN103091615B |
申请公布日期 |
2014.04.16 |
申请号 |
CN201110455922.8 |
申请日期 |
2011.12.30 |
申请人 |
展讯通信(上海)有限公司 |
发明人 |
彭晓峰;陈远;王森;林福辉;黄玉春 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I;H04N17/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
许蓓 |
主权项 |
一种测量图像传感器的响应曲线的方法,其特征在于,包括:使用待测图像传感器对标准灰阶卡进行至少一次曝光拍摄,获得拍摄图像,所述标准灰阶卡具有多个灰阶块,每个灰阶块的灰度均匀,不同灰阶块的灰度不同,所述拍摄图像包括多个分别与所述灰阶块对应的灰阶图像块;计算每个所述灰阶图像块的相对曝光量,所述相对曝光量为所述曝光拍摄时使用的曝光时间与每个灰阶块的灰度的乘积;分别以像素值和相对曝光量作为横纵坐标,基于每个所述灰阶图像块内像素点的像素值与该灰阶图像块的所述相对曝光量设置多个参考点;基于所述多个参考点进行插值计算,获得所述响应曲线。 |
地址 |
201203 上海浦东新区张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼 |