透过波长2400nm以上的火焰探测滤光片

摘要

本实用新型所设计的一种峰值透过率高，能极大的提高信噪比，提高火焰探测精度的透过波长2400nm以上的火焰探测滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Si、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，该透过波长2400nm以上的火焰探测滤光片，其T=50%，波长:2400±200nm，在火焰探测过程中，可大大的提高信噪比，提高测试精准度。该滤光片2460～3600nnm、Tavg≥92%，400～2350nm、Tavg≤0.5%。

主权项

一种透过波长2400nm以上的火焰探测滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Si、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是：所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有：189nm厚度的Si层、129nm厚度的SiO层、90nm厚度的Si层、272nm厚度的SiO层、91nm厚度的Si层、232nm厚度的SiO层、118nm厚度的Si层、238nm厚度的SiO层、98nm厚度的Si层、262nm厚度的SiO层、115nm厚度的Si层、217nm厚度的SiO层、104nm厚度的Si层、279nm厚度的SiO层、106nm厚度的Si层、170nm厚度的SiO层、122nm厚度的Si层和480nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：100nm厚度的Ge层、102nm厚度的SiO层、69nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、55nm厚度的Ge层、156nm厚度的SiO层、75nm厚度的Ge层、119nm厚度的SiO层、62nm厚度的Ge层、177nm厚度的SiO层、56nm厚度的Ge层、277nm厚度的SiO层、99nm厚度的Ge层、125nm厚度的SiO层、127nm厚度的Ge层和437nm厚度的SiO层。