发明名称 | 基于高速摄影的微分离性能的测量方法 | ||
摘要 | 本发明提供的基于高速摄影的微分离性能的测量方法,包括步骤:步骤1:搭建分离性能测试平台;步骤2:安装高速摄影设备及标尺;步骤3:通过高速摄影拍摄分离过程,计算分离速度、分离角度、分离力。在步骤1中,将待分离的小卫星模拟器用分离装置固定在分离面上并进行解锁装置供电安全性检查;在步骤2中,将高速摄影装置对准分离装置,并将标尺安装在分离性能测试台上并校正水平及竖直;在步骤3中,开启高速摄影装置,启动分离电源控制开关,待分离螺杆飞出落地后,停止摄影;通过对每帧图像中螺杆对应的标尺刻度的变化,计算出分离速度、分离角度、分离力大小。本发明能够较为精确地估算出微分离装置的分离速度、分离角度、分离力的大小。 | ||
申请公布号 | CN103727926A | 申请公布日期 | 2014.04.16 |
申请号 | CN201310705685.5 | 申请日期 | 2013.12.19 |
申请人 | 上海卫星工程研究所 | 发明人 | 侯建文;袁建平;张雨辰;邓成晨;张守华 |
分类号 | G01C11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01C11/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人 | 郭国中 |
主权项 | 一种基于高速摄影的微分离性能的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:搭建分离性能测试平台;步骤2:安装高速摄影设备及标尺;步骤3:通过高速摄影拍摄分离过程,计算分离速度、分离角度、分离力。 | ||
地址 | 200240 上海市闵行区华宁路251号 |