发明名称 |
弥散张量成像方法及系统 |
摘要 |
一种弥散张量成像方法,其特征在于,包括以下步骤:计算概率密度函数;按照所述概率密度函数进行变密度采样得到无弥散图和多个弥散图所对应的数据;对所述无弥散图和多个弥散图所对应的数据进行重建得到重建图像。上述弥散张量成像方法中,通过计算出概率密度函数,并根据概率密度函数对无弥散图和各弥散图的数据进行变密度采样,大大减少了所需采样的数据,使得采集时间大幅减少,实现快速弥散张量成像。此外,还提供了弥散张量成像系统。 |
申请公布号 |
CN102334992B |
申请公布日期 |
2014.04.16 |
申请号 |
CN201110320298.0 |
申请日期 |
2011.10.19 |
申请人 |
中国科学院深圳先进技术研究院 |
发明人 |
吴垠;刘伟;刘新;郑海荣;邹超;张娜 |
分类号 |
A61B5/055(2006.01)I |
主分类号 |
A61B5/055(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
吴平 |
主权项 |
一种弥散张量成像方法,包括步骤:进行预采样得到预采样数据;计算概率密度函数;按照所述概率密度函数进行变密度采样得到无弥散图和多个弥散图所对应的数据,对所述无弥散图和多个弥散图所对应的数据进行重建得到重建图像;其中,所述计算概率密度函数的步骤为:分别对所述预采样数据进行计算得到概率密度函数;所述变密度采样的方式为:将低频信号作为主要信号进行采集,对低频区信号的采集量大于对高频区信号的采集量;其特征在于,所述预采样数据包括无弥散图或任意一弥散图的预采样数据;所述分别对所述预采样数据进行计算得到概率密度函数的步骤具体为:对所述无弥散图或任意一弥散图的预采样数据进行计算得到无弥散图或任意一弥散图对应的概率密度函数;所述按照所述概率密度函数进行变密度采样得到无弥散图数据和多个弥散图所对应的数据的步骤具体为:按照所述无弥散图或任意一弥散图对应的概率密度函数进行变密度采样,得到无弥散图数据和多个弥散图所对应的数据。 |
地址 |
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 |