大功率LED可靠性试验的结温监测电路系统

摘要

本发明公开一种大功率LED可靠性试验的结温监测电路及方法，所述电路包括：快速切换模块，延时采样模块，自标定模块，测试恒流源模块和驱动恒流源模块，其中所述快速切换模块，用于将所述的驱动恒流模块进行快速切断；所述延时采样模块，用于采集所述的测试恒流源模块在LED两端产生的正向压降；所述自标定模块，用于比较待测LED和参考LED在不同温度下的正向电压，通过自标定环节，消除待测LED由测试电流引起的物性变化，获取待测LED在可靠性试验环境下的结温。本发明所述的电路能实时监测LED工作的稳态结温变化趋势，为可靠性试验中LED封装模块热性能的描述与评估提供科学的评价依据。

主权项

一种大功率LED可靠性试验的结温监测电路，其特征在于：包括驱动恒流源模块(500)、测试恒流源模块(400)、快速切换模块(100)、所述延时采样模块(200)和自定标模块(300)，其中，所述驱动恒流源模块电连接待测LED，对所述待测LED进行加热；所述测试恒流源电路电连接所述待测LED，提供所述待测LED测试所需的电流；所述快速切换模块，用于控制所述的驱动恒流模块的输出电流在所述待测LED的加热周期作用于待测发光二极管，测试周期被旁路到地；所述延时采样模块，连接晶振(201)并通过所述晶振提供标准时钟信号，产生控制脉冲时序，基于所述控制脉冲时序采集所述测试恒流源模块输出的所述待测LED(10)在所述的测试电流周期下的正向电压；所述自标定模块电连接第三数字电压计(301)，所述自标定模块通过比较待测LED和参考LED，消除待测LED由电流引起的物性变化，在线监测待测LED在不同可靠性环境下的结温，获取所述待测LED由温度效应引起的电压变化，并将所述电压输出至所述第三数字电压计进行显示；所述系统还包括用于取样监测所述测试恒流源模块输出电流的第一取样电阻(R_ts)及第一数字电压计(401)，用于取样监测所述驱动恒流源模块输出电流的第二取样电阻(R_ds)及第二数字电压计(501)。