| 发明名称 | 区分原生表面特征与外来表面特征的方法 | ||
| 摘要 | 本申请公开了区分原生表面特征与外来表面特征的方法。本文提供了一种装置，包括：光子探测器阵列；以及处理设备，配置成处理与从物品的表面散射并且聚焦在第一焦平面的第一组光子以及从物品的表面散射并且聚焦在第二焦平面的第二组光子相对应的光子探测器阵列信号，其中所述处理设备进一步包括区分物品的原生表面特征与物品的外来表面特征。 | ||
| 申请公布号 | CN103728314A | 申请公布日期 | 2014.04.16 |
| 申请号 | CN201310756797.3 | 申请日期 | 2013.10.16 |
| 申请人 | 希捷科技有限公司 | 发明人 | J·W·艾和;D·M·唐;S·K·H·王;H·L·洛特;S·K·麦克劳林;M·纳西柔;F·扎瓦利彻 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 何焜 |
| 主权项 | 一种装置，包括：光子发射器，配置成顺序地发射第一组光子和第二组光子至物品的表面；光子探测器阵列；以及处理设备，配置成处理与从物品的表面特征散射并且聚焦在第一焦平面的第一组光子以及从物品的表面特征散射并且聚焦在第二焦平面的第二组光子相对应的光子探测器阵列信号，其中该处理设备进一步配置成区分物品的原生表面特征与物品的外来表面特征。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||