发明名称 接触器磨损老化检测装置及方法
摘要 提供一种用于检测接触器的磨损老化的装置及方法。该装置包括:通断电检测器,检测接触器的通电/断电动作,在检测到接触器触头将进行闭合动作的通电情况后,给出闭合动作指示信号;微处理器系统,在接收到闭合动作指示信号后,输出占空比可调的PWM信号来控制接触器中的开关晶体管的导通和截止;速度传感器,从外部检测所述电气触头闭合过程中的速度信号;A/D转换器,将速度传感器检测的速度信号转换成数字信号,输出到微处理器控制系统;微处理器控制系统通过将数字化的速度信号针对时间进行积分,得到动触头的从闭合动作开始到实际电气接触为止的过程中的实际的位移量,并基于动触头的实际的位移量,判断接触器的磨损老化程度。
申请公布号 CN101813750B 申请公布日期 2014.04.16
申请号 CN200910009216.3 申请日期 2009.02.24
申请人 施耐德电器工业公司 发明人 王峰;王英
分类号 G01R31/327(2006.01)I 主分类号 G01R31/327(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 钱大勇
主权项 一种用于检测接触器的磨损老化的装置(6),其中所述接触器包括:相对设置的电气动触头(1)和电气静触头(2),以及相对设置的可动铁芯(3)和固定铁芯(4);所述可动铁芯(3)与所述电气动触头(1)机械相连,所述固定铁芯(4)在其中容纳着控制线圈(5),通过一开关晶体管(Q)对控制线圈(5)进行通/断电使得固定铁芯(4)对可动铁芯(3)产生/消除电磁吸引力,带动电气动、静触头闭合或断开,用于检测接触器的磨损老化的装置(6)的特征在于包括:通断电检测器(65),用于检测接触器的通电/断电动作,在检测到接触器触头将进行闭合动作的通电情况后,给出闭合动作指示信号;微处理器系统(61),在接收到通断电检测器(65)的闭合动作指示信号后,输出一组占空比可调的PWM信号来控制开关晶体管(Q)的导通和截止;速度传感器(62),用于从外部检测所述电气触头闭合过程中的速度信号;A/D模数转换器(63),用于将所述速度传感器(62)检测的速度信号转换成数字信号,然后输出到微处理器控制系统(61);其中微处理器控制系统(61)通过将数字化的速度信号针对时间进行积分,得到动触头的从闭合动作开始到实际电气接触为止的过程中的实际的位移量,并基于动触头的实际的位移量,判断接触器的磨损老化程度。
地址 法国吕埃马迈松