发明名称 堆叠纳米线MOS晶体管制作方法
摘要 本发明公开了一种堆叠纳米线MOS晶体管制作方法,包括:在衬底上形成沿第一方向延伸的多个鳍片;在每个鳍片中形成由多个纳米线构成的纳米线堆叠;在纳米线堆叠上形成沿第二方向延伸的栅极堆叠结构,栅极堆叠结构环绕包围纳米线堆叠;在栅极堆叠结构两侧形成源漏区,源漏区之间的纳米线构成沟道区。依照本发明的堆叠纳米线MOS晶体管及其制作方法,通过多次回刻、侧向腐蚀沟槽并填充,形成了质量良好的纳米线堆叠。侧向腐蚀工艺方法包括包含内切横向刻蚀量的各向同性干法刻蚀,或者沿各晶向选择腐蚀的湿法腐蚀方法。本方法以较低的成本充分增大导电沟道有效宽度从而提高驱动电流。
申请公布号 CN103730366A 申请公布日期 2014.04.16
申请号 CN201210392511.3 申请日期 2012.10.16
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 殷华湘;秦长亮;付作振;马小龙;陈大鹏
分类号 H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 代理人 陈红
主权项 一种堆叠纳米线MOS晶体管制作方法,包括:在衬底上形成沿第一方向延伸的多个鳍片;在每个鳍片中形成由多个纳米线构成的纳米线堆叠;在纳米线堆叠上形成沿第二方向延伸的栅极堆叠结构,栅极堆叠结构环绕包围纳米线堆叠;在栅极堆叠结构两侧形成源漏区,源漏区之间的纳米线构成沟道区。
地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3#