发明名称 |
一种纳米力学测试系统用样品台及其使用方法 |
摘要 |
一种纳米力学测试系统用样品台及其使用方法,属于纳米力学测试实验技术领域。本发明包括基体和样品支撑架,基体分为磁性样品区及非磁性样品区,磁性样品区内设置有变深度样品区,磁性样品区下面设有磁性金属;非磁性样品区内设有超薄样品放置区,样品支撑架与超薄样品放置区相对应。在本发明样品台上固定样品时无需胶水粘贴,避免清理胶水时损坏样品台;通过变深度样品区固定高度过高样品时,可以降低样品高度,避免撞针事故;通过样品支撑架固定超薄样品时,利用定位螺钉固定,借助样品支撑架提高样品高度;样品台坐标网格线用于扫描电镜定位样品位置,实现通过原位观察进行原位实验的要求,能够快速准确定位样品,工作效率和实验精度高。 |
申请公布号 |
CN103730312A |
申请公布日期 |
2014.04.16 |
申请号 |
CN201410008948.1 |
申请日期 |
2014.01.09 |
申请人 |
东北大学 |
发明人 |
薛文颖;申勇峰;刘振宇 |
分类号 |
H01J37/20(2006.01)I;G01N3/40(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/20(2006.01)I |
代理机构 |
沈阳东大专利代理有限公司 21109 |
代理人 |
梁焱 |
主权项 |
一种纳米力学测试系统用样品台,其特征在于:包括基体和样品支撑架,所述基体分为磁性样品区及非磁性样品区,在所述磁性样品区内设置有变深度样品区,在磁性样品区对应的基体下表面设置有磁性金属;在所述非磁性样品区内设置有超薄样品放置区,所述样品支撑架与超薄样品放置区相对应。 |
地址 |
110819 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号 |